设为首页
 加入收藏
首页 关于我们 新闻中心 设备 材料 技术服务 客户需求 诚聘英才 联系我们
原位实验设备
高压DAC设备
高低温设备
X射线相关设备
真空设备
常用仪器
实验室基本设备
靶材
衬底材料
窗口材料
非金属材料
实验样品
材料加工
其他材料
实验室整体建设
学术会议服务
测试服务
数据分析服务

III-V或II-VI化合物晶体基片
CdS单晶基片

用途:X射线检测,连接器件,外延基片,蒸发源的晶体片。

参数:

生长方法 PVT
晶体结构 六方(a=4.1367Å,c=6.7161Å)
密度 4.821g/cm3
热膨胀系数 4.6×10-6/ at A axis, 2.5×10-6/ at C axis
光学透过率 71%(0.52-14.8um)
尺寸 25×25×15mm,可根据客户的要求定制特殊方向和尺寸
抛光 单面或双面抛光
封装 100级超净袋、单片或多片晶元盒

关于我们 | 招聘信息| 联系我们
Copyright (C)i网 2004-2011,All Rights Reserved | 京ICP证88889号 材料制品经营许可证 京网备0101号