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原位XAFS表征系统

Deep Inspectra X1谱仪是由北京中研环科科技有限公司研发设计的新一代专用于实验室级别的X 射线吸收精细结构谱仪系统。

该谱仪采用前沿的Rowland结构设计，可使得实验室研究人员进行简单、便捷的XAFS测试，实现机时自由！

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台式原位XAFS表征系统是台式XAFS装置和原位表征技术的有机结合主要是反应样品在实际工作状态下的局域结构和电子结构的演化过程，台式原位XAFS表征系统不仅可以应用于基础学科中的功能材料性能研究、纳米材料合成研究、化学合成分析研究以及基础物理研究等，同时，该种技术还可以应用于国际上各个不同领域的最前沿应用研究，如航空航天领域的力学研究、轨道交通领域的功能材料研究、生物医药领域的生物大分子结构研究等。可以说台式原位XAFS表征系统无论是对于基础科学研究还是国家工业应用研究都具有十分重要的战术和战略意义。